• 【車內(nèi)消費(fèi)類接口測試】 泰克賦能V-by-One HS技術(shù)在汽車電子測試領(lǐng)域的應(yīng)
    隨著智能汽車技術(shù)的飛速發(fā)展,汽車電子系統(tǒng)對高清視頻和音頻傳輸?shù)男枨蟛粩嘣黾?。V-by-One HS作為一種高性能的串行化接口技術(shù),憑借其高帶寬、低功耗和高可靠性等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于汽車電子系統(tǒng)中。本文將介紹V-by-One HS技術(shù)的核心特性、應(yīng)用場景以及泰克公司提供的測試解決方案。 V-by-One HS技術(shù)的核心特性 V-by-One HS是日本賽恩電子公司(THine)獨(dú)立開發(fā)的專用于視頻信
    【車內(nèi)消費(fèi)類接口測試】  泰克賦能V-by-One HS技術(shù)在汽車電子測試領(lǐng)域的應(yīng)
  • 已經(jīng)內(nèi)卷到不行的ATE市場,新玩家還在不斷增加
    最近一兩年的時(shí)間里,我一直在各種渠道里講半導(dǎo)體測試設(shè)備(ATE)這個(gè)行業(yè)已經(jīng)非常卷了,可是還有頭鐵的投資人不時(shí)給我發(fā)新項(xiàng)目的BP
    已經(jīng)內(nèi)卷到不行的ATE市場,新玩家還在不斷增加
  • 關(guān)于過孔、通流和溫度的一本書
    這本書的體量不大,整體以測試數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),講述過孔、過流和溫度等相關(guān)問題。第一個(gè)問題是關(guān)于銅厚的,產(chǎn)品的疊層設(shè)計(jì),0.5oz對應(yīng)的厚度是0.6mil,1oz對應(yīng)的厚度是1.2mil,奇怪的是將其用公制mm表示,1oz對應(yīng)的厚度是0.035mm,公制轉(zhuǎn)換成英制,則對應(yīng)1.38mil,還有制造工藝上的公差又有+/-10%。這些偏差是常見的經(jīng)驗(yàn)值造成的,是需要注意的。
    關(guān)于過孔、通流和溫度的一本書
  • wafer晶圓幾何形貌測量系統(tǒng) 厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測量
    在先進(jìn)制程中,厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)三者共同決定了晶圓的幾何完整性,是良率提升和成本控制的核心參數(shù)。通過WD4000晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)在線檢測,可減少其對芯片性能的影響。
  • MICRO OLED 金屬陽極像素制作工藝對晶圓 TTV 厚度的影響機(jī)制及測量優(yōu)化
    引言 在 MICRO OLED 的制造進(jìn)程中,金屬陽極像素制作工藝舉足輕重,其對晶圓總厚度偏差(TTV)厚度存在著復(fù)雜的影響機(jī)制。晶圓 TTV 厚度指標(biāo)直接關(guān)乎 MICRO OLED 器件的性能與良品率,因此深入探究二者關(guān)系并優(yōu)化測量方法意義重大。 影響機(jī)制 工藝應(yīng)力引發(fā)變形 在金屬陽極像素制作時(shí),諸如光刻、蝕刻、金屬沉積等步驟會(huì)引入工藝應(yīng)力。光刻中,光刻膠的涂覆與曝光過程會(huì)因光刻膠固化收縮產(chǎn)生應(yīng)
  • 液晶屏短路環(huán)的激光切割方案及相關(guān) TFT-LCD 激光修復(fù)方法
    引言 在液晶屏制造與使用過程中,短路環(huán)的出現(xiàn)會(huì)嚴(yán)重影響電路信號(hào)傳輸,導(dǎo)致顯示異常。同時(shí),TFT-LCD 的其他故障也制約著產(chǎn)品質(zhì)量。研究高效的液晶屏短路環(huán)激光切割方案及 TFT-LCD 激光修復(fù)方法,對提升液晶屏良品率與生產(chǎn)效率意義重大。 液晶屏短路環(huán)激光切割方案 激光切割原理 激光切割基于高能量密度激光束的熱效應(yīng)。當(dāng)激光束聚焦于液晶屏短路環(huán)部位時(shí),瞬間產(chǎn)生的高溫使短路環(huán)處的材料迅速熔化、氣化,從
  • 南柯電子 直流電機(jī)EMC整改 怎么選擇 功率多少
    隨著工業(yè)自動(dòng)化與智能設(shè)備的普及,直流電機(jī)因其高效、調(diào)速性能優(yōu)越等特點(diǎn),在汽車電子、智能家電、工業(yè)控制等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。然而,其運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的電磁干擾(EMI)問題常導(dǎo)致電磁兼容性(EMC)測試不達(dá)標(biāo),影響產(chǎn)品可靠性及市場準(zhǔn)入。
  • 機(jī)械零件深孔測量方法的探究 激光頻率梳 3D 輪廓測量
    摘要 本文圍繞機(jī)械零件深孔測量展開,分析傳統(tǒng)測量方法不足,重點(diǎn)探究激光頻率梳 3D 輪廓測量技術(shù)在機(jī)械零件深孔測量中的應(yīng)用。闡述該技術(shù)原理,結(jié)合實(shí)例說明其優(yōu)勢,為機(jī)械零件深孔測量提供新的技術(shù)思路與參考。 關(guān)鍵詞 機(jī)械零件;深孔測量;激光頻率梳;3D 輪廓測量 一、引言 在機(jī)械制造領(lǐng)域,深孔零件應(yīng)用廣泛,如液壓缸、發(fā)動(dòng)機(jī)噴油嘴、動(dòng)車空心主軸等。深孔的精確測量對機(jī)械零件性能和設(shè)備整體運(yùn)行至關(guān)重要。傳統(tǒng)
  • 薄膜電弱點(diǎn)測試儀的工作原理及關(guān)鍵性能指標(biāo)分析
    薄膜電弱點(diǎn)測試儀的工作原理基于介質(zhì)擊穿理論。在正常情況下,薄膜作為絕緣介質(zhì)能夠阻止電流通過,但當(dāng)薄膜存在針孔、裂紋等電弱點(diǎn)缺陷時(shí),這些缺陷部位的絕緣性能下降,在一定電壓作用下會(huì)被擊穿形成導(dǎo)電通道 。?
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    05/29 14:46
  • 系統(tǒng)EMC設(shè)計(jì)概述
    在數(shù)字化時(shí)代,電子設(shè)備如同精密的交響樂團(tuán),每個(gè)元件的和諧運(yùn)作都離不開穩(wěn)定的電磁環(huán)境。然而,現(xiàn)實(shí)中的電磁干擾如同隱藏的 “噪音”,時(shí)刻威脅著設(shè)備的性能與穩(wěn)定性。今天,我們就來聊聊系統(tǒng)級(jí)電磁兼容性(EMC)設(shè)計(jì) —— 這一守護(hù)電子設(shè)備的核心技術(shù)。 EMC設(shè)計(jì)的目標(biāo) EMC設(shè)計(jì)的目標(biāo)是讓電子設(shè)備在復(fù)雜的電磁環(huán)境中 “出淤泥而不染”:既能抵御外界干擾保持正常工作,又能控制自身產(chǎn)生的電磁能量不干擾其他設(shè)備。
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    05/28 17:51
    EMC
  • 分布式光伏為什么需要安裝防孤島保護(hù)裝置
    iRelay 51-G防孤島保護(hù)裝置具有豐富的保護(hù)功能,可直接接入400V分布式電源并網(wǎng)供電系統(tǒng),守護(hù)光伏并網(wǎng)系統(tǒng)安全;體積小巧、安裝靈活,廣泛應(yīng)用于光伏電站、風(fēng)電場、儲(chǔ)能電站、微電網(wǎng)等新能源場景。
  • 晶圓背面減薄過程 對晶圓TTV 的管控
    摘要:本文聚焦晶圓背面減薄過程中晶圓總厚度偏差(TTV)的管控問題,從減薄工藝參數(shù)優(yōu)化、設(shè)備性能提升、檢測與反饋機(jī)制完善等方面,系統(tǒng)闡述有效的 TTV 管控方法,旨在減少減薄過程對晶圓 TTV 的不良影響,保障晶圓制造質(zhì)量。 關(guān)鍵詞:晶圓背面減??;TTV;工藝參數(shù);設(shè)備優(yōu)化;檢測反饋 一、引言 在半導(dǎo)體制造中,晶圓背面減薄是為滿足芯片輕薄化需求的關(guān)鍵工藝。然而,減薄過程中機(jī)械應(yīng)力、熱應(yīng)力等因素易使
  • 液晶屏幕 AOI 異常檢測及 TFT-LCD 激光修復(fù)方法
    引言 在液晶屏幕生產(chǎn)制造中,自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)技術(shù)是保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié),能有效識(shí)別屏幕生產(chǎn)過程中的各類缺陷。同時(shí),TFT-LCD 作為液晶屏幕的核心部件,出現(xiàn)故障后如何高效修復(fù)也至關(guān)重要。研究 AOI 異常檢測及 TFT-LCD 激光修復(fù)方法,對提升液晶屏幕良品率和生產(chǎn)效率意義深遠(yuǎn)。 液晶屏幕 AOI 異常檢測 AOI 檢測原理 AOI 技術(shù)基于光學(xué)成像原理,通過高分辨率相機(jī)采集液晶屏幕圖
  • 硬件級(jí)同步技術(shù) 高精度時(shí)間同步實(shí)現(xiàn)與應(yīng)用的關(guān)鍵
    如何通過硬件級(jí)PTSS/CTSS技術(shù)實(shí)現(xiàn)亞微秒級(jí)時(shí)間同步,支持多傳感器數(shù)據(jù)精準(zhǔn)對齊?PSB+QX550方案采用GPS/PPS/本地時(shí)鐘冗余設(shè)計(jì),具備動(dòng)態(tài)容錯(cuò)功能,適用于自動(dòng)駕駛測試等需要高精度時(shí)間同步的場景。
  • 激光頻率梳 3D 輪廓測量在深孔孔深測量的應(yīng)用有哪些
    摘要 本文針對深孔孔深測量需求,探討激光頻率梳 3D 輪廓測量技術(shù)的應(yīng)用。先分析深孔測量現(xiàn)狀及傳統(tǒng)方法局限,再闡述該技術(shù)原理,最后結(jié)合航空航天、石油工程等領(lǐng)域?qū)嵗宫F(xiàn)其在深孔孔深測量中的具體應(yīng)用,為相關(guān)工程實(shí)踐提供參考。 關(guān)鍵詞 激光頻率梳;3D 輪廓測量;深孔孔深測量;應(yīng)用 一、引言 在現(xiàn)代工業(yè)制造中,深孔結(jié)構(gòu)廣泛存在于航空航天、能源、機(jī)械等領(lǐng)域,如航空發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪葉片冷卻孔、石油鉆井孔、汽車發(fā)
  • 深圳南柯電子 交流電機(jī)EMC整改 電磁兼容問題為何成為核心挑戰(zhàn)
    在工業(yè)自動(dòng)化與新能源設(shè)備高速發(fā)展的今天,交流電機(jī)作為核心動(dòng)力部件,其電磁兼容性(EMC)問題日益凸顯。電磁干擾不僅會(huì)導(dǎo)致設(shè)備誤動(dòng)作、通信中斷,甚至可能引發(fā)安全事故。據(jù)統(tǒng)計(jì),超過60%的電機(jī)系統(tǒng)故障與電磁兼容問題相關(guān),而整改成本往往占到研發(fā)總投入的15%-25%。
  • 不同的激光器對于激光玻璃打孔的影響和選型怎么定
    一、引言 在激光玻璃打孔工藝中,激光器作為核心設(shè)備,其類型和性能直接影響打孔質(zhì)量、效率和成本。隨著激光技術(shù)的發(fā)展,多種類型激光器應(yīng)用于玻璃打孔領(lǐng)域,如何選擇合適的激光器成為行業(yè)關(guān)注焦點(diǎn)。深入探究不同激光器對玻璃打孔的影響及選型方法,對優(yōu)化玻璃打孔工藝具有重要意義。 二、不同激光器類型對玻璃打孔的影響 (一)固體激光器 固體激光器如 Nd:YAG 激光器,輸出的激光脈沖能量高、峰值功率大,能夠瞬間將
  • 復(fù)合材料抗沖擊性能測試中的落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)關(guān)鍵技術(shù)
    復(fù)合材料以高比強(qiáng)度、可設(shè)計(jì)性等優(yōu)勢,在航空航天等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。但服役中的沖擊載荷易引發(fā)分層等損傷,因此其抗沖擊性能測試尤為關(guān)鍵。落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)是常用測試設(shè)備,鑒于復(fù)合材料特性,深入研究其關(guān)鍵技術(shù)可提升測試準(zhǔn)確性。
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    05/28 14:31
  • 溫度循環(huán)與溫度沖擊的不同點(diǎn)
    環(huán)境測試是確保產(chǎn)品能夠在復(fù)雜多變的現(xiàn)實(shí)環(huán)境中穩(wěn)定可靠運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。而在眾多環(huán)境測試方法里,溫度循環(huán)和溫度沖擊是常用卻又極易混淆的兩項(xiàng)測試。深入理解它們之間的差異,對于精準(zhǔn)評估產(chǎn)品性能、提升研發(fā)效率以及把控產(chǎn)品質(zhì)量都有著至關(guān)重要的意義。接下來,小編將從多個(gè)維度為您介紹溫度循環(huán)與溫度沖擊的不同點(diǎn)。 一、定義與目的 溫度循環(huán) 溫度循環(huán)測試就像是在模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中所經(jīng)歷的日常溫度變化場景。比如,
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    05/27 14:27
  • CDR廣播 引領(lǐng)廣播數(shù)字化的新篇章
    CDR技術(shù)作為廣播數(shù)字化的重要發(fā)展方向,具有廣闊的發(fā)展前景。隨著數(shù)字化技術(shù)的不斷進(jìn)步和新媒體的快速發(fā)展,CDR技術(shù)將不斷升級(jí)和完善,提供更加豐富的節(jié)目內(nèi)容和形式,滿足用戶多樣化的需求。同時(shí),CDR技術(shù)還將與其他新技術(shù)融合,如5G、物聯(lián)網(wǎng)等,推動(dòng)廣播行業(yè)的進(jìn)一步創(chuàng)新和發(fā)展。未來,CDR技術(shù)有望在應(yīng)急廣播、智能交通、智慧城市等領(lǐng)域發(fā)揮更加重要的作用,為人們的生活帶來更多便利和安全保障。

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