芯片測試

• 芯片可測性設(shè)計中的Procedural Description Language

  PDL（Procedural Description Language，過程描述語言）是IEEE 1687（IJTAG）標準的一部分，用于描述對嵌入式器件的操作過程。它是一種高級命令語言，能夠指導(dǎo)器件如何生成測試模式，而不是直接描述測試模式本身。PDL的主要功能是提供一種標準化的方式來描述對嵌入式器件的操作，使得這些操作可以在不同層次的硬件結(jié)構(gòu)中被復(fù)用。

  志芯

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  05/19 08:53

  芯片設(shè)計 芯片測試

  
• 集成電路制造的質(zhì)量管控鐵三角：CP、FT 與 WAT 測試解析

  在集成電路制造的復(fù)雜流程中，CP（Chip Probing）測試、FT（Final Test）測試和 WAT（Wafer Acceptance Test）測試構(gòu)成了質(zhì)量管控的關(guān)鍵體系。這三大測試環(huán)節(jié)分別作用于芯片生產(chǎn)的不同階段，擁有獨特的測試目標與對象，如同精密儀器的不同部件，共同保障著芯片產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性。

  國芯制造

  1589

  05/12 11:20

  芯片測試 集成電路制造

  
• 一文介紹半導(dǎo)體芯片各類測試

  半導(dǎo)體芯片測試是指對芯片在制造和封裝環(huán)節(jié)進行的，為檢查其電氣特性、功能和性能等進行的驗證，目的是判斷其是否符合設(shè)計要求。集成電路測試分為三部分，包括芯片設(shè)計驗證、晶圓制造、封裝環(huán)節(jié)的測試，這3部分測試涵蓋了芯片的整個生命過程。

  芯科技圈

  1248

  05/09 11:45

  芯片測試

  

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