在材料科學(xué)與工業(yè)生產(chǎn)中,熱膨脹系數(shù)是衡量材料性能的核心指標(biāo),反映其隨溫度變化的尺寸特性。熱膨脹系數(shù)測試儀基于不同物理原理設(shè)計(jì),集成多項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)保障測量精度,對材料研究與設(shè)備使用意義重大。
一、熱膨脹系數(shù)測試儀的工作原理
(一)機(jī)械接觸式原理
機(jī)械接觸式測試儀通過直接測量樣品熱脹長度變化工作。儀器由加熱、位移測量和溫控系統(tǒng)組成,將樣品一端固定,另一端連接 LVDT 等位移傳感器。升溫時(shí)樣品膨脹推動探針,傳感器將位移轉(zhuǎn)為電信號,結(jié)合溫控系統(tǒng)記錄的溫度數(shù)據(jù),依公式 α = (1/L?)×(dL/dT) 計(jì)算熱膨脹系數(shù)。
(二)光學(xué)法原理
光學(xué)法采用干涉、激光測距等技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸測量。以激光干涉法為例,激光束經(jīng)樣品和參考鏡反射形成干涉條紋,樣品膨脹導(dǎo)致條紋移動,光電探測器檢測條紋變化并轉(zhuǎn)換為電信號,結(jié)合溫度數(shù)據(jù)計(jì)算熱膨脹系數(shù),適用于半導(dǎo)體等高精度材料。
(三)電磁感應(yīng)法原理
電磁感應(yīng)法基于電磁感應(yīng),適用于導(dǎo)電材料。激勵(lì)線圈產(chǎn)生交變磁場使樣品產(chǎn)生感應(yīng)電流與次級磁場,檢測線圈監(jiān)測磁場變化。樣品受熱膨脹改變感應(yīng)電流與磁場,通過信號分析及溫度數(shù)據(jù),經(jīng)算法計(jì)算熱膨脹系數(shù),可動態(tài)監(jiān)測材料熱膨脹過程。
二、熱膨脹系數(shù)測試儀的關(guān)鍵技術(shù)
(一)高精度位移測量技術(shù)
位移精度決定測試準(zhǔn)確性,LVDT、光柵尺、電容式傳感器廣泛應(yīng)用。光柵尺利用莫爾條紋,分辨率達(dá)納米級;電容式傳感器基于電容變化,靈敏度高,滿足微小位移測量需求。
(二)精確溫度控制技術(shù)
精準(zhǔn)溫控是測試關(guān)鍵,溫控系統(tǒng)含加熱、冷卻裝置及傳感器與控制算法。加熱元件快速升溫,冷卻裝置實(shí)現(xiàn)降溫,熱電偶等傳感器實(shí)時(shí)測溫,PID、模糊控制算法調(diào)節(jié)功率,確保溫控精度達(dá) ±1℃。
(三)數(shù)據(jù)采集與處理技術(shù)
測試儀配備高性能采集處理系統(tǒng),高速 A/D 轉(zhuǎn)換器以數(shù)千次 / 秒頻率采集位移、溫度信號,軟件對數(shù)據(jù)濾波、平滑處理,自動計(jì)算熱膨脹系數(shù)、繪制曲線,支持數(shù)據(jù)存儲、導(dǎo)出與報(bào)告生成。
熱膨脹系數(shù)測試儀依托多元原理與核心技術(shù)保障測量效能。伴隨技術(shù)革新,其將為材料研究與生產(chǎn)提供更強(qiáng)勁支持。