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如何消除因炭塊表面吸附氣體而對(duì)空氣透過(guò)率測(cè)試結(jié)果的影響

02/14 09:48
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炭塊表面吸附的氣體可能會(huì)占據(jù)部分孔隙,從而嚴(yán)重干擾真實(shí)的空氣透過(guò)性能測(cè)試結(jié)果。為了獲取準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù),在測(cè)試前對(duì)炭塊進(jìn)行行之有效的預(yù)處理至關(guān)重要。

其中,真空脫氣是一種常用且效果顯著的方法。將炭塊放置于真空環(huán)境里,利用負(fù)壓促使吸附在其表面的氣體脫附。在實(shí)際操作中,真空度的把控極為關(guān)鍵,一般要求達(dá)到 10?3 Pa 以下,只有這樣的高真空水平,才能為氣體脫附創(chuàng)造良好條件。同時(shí),保持一定的脫氣時(shí)間也不可或缺,通常維持在 2 - 4 小時(shí)為宜。在這段時(shí)間內(nèi),持續(xù)的真空環(huán)境能夠讓大部分吸附氣體逐漸脫離炭塊表面,從而降低對(duì)后續(xù)測(cè)試的影響。

除了真空脫氣,高溫焙燒也是一種可選的預(yù)處理手段。高溫能夠使吸附氣體的活性增強(qiáng),進(jìn)而從炭塊表面逸出。不過(guò),采用這種方法時(shí),必須嚴(yán)格控制溫度和時(shí)間。溫度過(guò)高或時(shí)間過(guò)長(zhǎng),都有可能導(dǎo)致炭塊的內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生改變,比如孔隙結(jié)構(gòu)被破壞、晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生相變等,這樣一來(lái),不僅無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試原本的空氣透過(guò)性能,還可能使炭塊的物理性質(zhì)發(fā)生不可逆轉(zhuǎn)的變化。所以,在運(yùn)用高溫焙燒法時(shí),需要提前進(jìn)行充分的實(shí)驗(yàn)探索,確定合適的溫度區(qū)間和焙燒時(shí)長(zhǎng),確保既能有效去除吸附氣體,又能最大程度保留炭塊的原始結(jié)構(gòu)。

在測(cè)試過(guò)程中,即便經(jīng)過(guò)預(yù)處理,也難以保證炭塊表面吸附氣體被完全去除,此時(shí)可以通過(guò)多次測(cè)量取平均值的方法來(lái)減少誤差。多次測(cè)量能夠在一定程度上抵消因吸附氣體殘留而產(chǎn)生的隨機(jī)誤差,使最終得到的測(cè)試結(jié)果更接近真實(shí)值。同時(shí),每次測(cè)量之間要保證測(cè)試條件的一致性,包括儀器的狀態(tài)、環(huán)境參數(shù)等,這樣才能確保多次測(cè)量數(shù)據(jù)的有效性和可比性,從而使平均值更具參考價(jià)值。

通過(guò)合理運(yùn)用上述預(yù)處理方法以及多次測(cè)量策略,能夠有效消除因炭塊表面吸附氣體而對(duì)空氣透過(guò)率測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生的影響,為準(zhǔn)確評(píng)估炭塊的空氣透過(guò)性能提供有力保障 。

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