尼得科精密檢測(cè)科技將參展2025年6月4日(周三)~6月6日(周五)在東京國際展覽中心舉辦的“第54屆國際電子電路產(chǎn)業(yè)展覽會(huì)”。 在本次展會(huì)上,尼得科精密檢測(cè)科技將主要展示面向新一代封裝而備受矚目的、Glass Panel的TGV檢測(cè)解決方案以及在尼得科集團(tuán)協(xié)同效應(yīng)下新開發(fā)的自動(dòng)搬運(yùn)設(shè)備“EFEM(Equipment Front End Module)”。此外,我們還新增了符合市場(chǎng)趨勢(shì)的AI及LE